CNBC:芯片短缺促使美國考慮進(jìn)行供應(yīng)鏈壓力測試,據(jù)CNBC援引兩位美國高級政府官員和兩位知情人士的話報(bào)道稱,最近出現(xiàn)的半導(dǎo)體短缺問題正促使白宮考慮進(jìn)行供應(yīng)鏈“壓力測試”。據(jù)報(bào)道,拜登政府正在考慮是否要求供應(yīng)鏈基于假設(shè)情形進(jìn)行壓力測試,并建議建立某些關(guān)鍵物品的庫存。政府機(jī)構(gòu)每周會開會一次討論這個問題,尚未發(fā)布最終建議。
備注:數(shù)據(jù)僅供參考,不作為投資依據(jù)。
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